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基于中国剩余定理的干涉仪测向方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010047798.7
  • IPC分类号:G01S3/46
  • 申请日期:
    2010-03-23
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第五十四研究所
著录项信息
专利名称基于中国剩余定理的干涉仪测向方法
申请号CN201010047798.7申请日期2010-03-23
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S3/46IPC分类号G;0;1;S;3;/;4;6查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第五十四研究所申请人地址
河北省石家庄市中山西路589号第54所电子战部 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第五十四研究所当前权利人中国电子科技集团公司第五十四研究所
发明人张海瑛;蔡忠伟;安效君;周涛;冉战胜;李少朋
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了一种基于中国剩余定理的干涉仪测向方法,它涉及无线电测向领域中一种干涉仪测向技术。本发明在天线形状和布阵尺寸固定的情况下,利用中国剩余定理设计出具有最佳性能的天线阵列形式,解决了相位模糊问题;并采用长短基线逐级匹配以及虚拟阵列处理技术,有效扩大了等效基线长度,提高了测向精度。本发明制造的设备具有操作简单、性能可靠、算法便捷、测向精度高等优点。特别适合应用于军事电子对抗领域的侦测设备中针对通信、雷达、测控等辐射源进行精确的测向定位。

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