自举型半桥驱动器共模电压变化率耐受测试装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011494935.1
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2020-12-17
申请人：
聚辰半导体股份有限公司

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著录项信息

专利名称	自举型半桥驱动器共模电压变化率耐受测试装置及方法
申请号	CN202011494935.1	申请日期	2020-12-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-20	公开/公告号	CN112684318A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	聚辰半导体股份有限公司	申请人地址	上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聚辰半导体股份有限公司	当前权利人	聚辰半导体股份有限公司
发明人	薛超;田涛
代理机构	上海元好知识产权代理有限公司	代理人	包姝晴;张静洁

摘要

本发明提供一种自举型半桥驱动器共模电压变化率耐受测试装置，包含：待测半桥驱动电路；升压单元，连接设置在功率电源和半桥驱动电路之间，通过升压单元生成用于测试半桥驱动电路共模电压变换率的冲击电流，并保证半桥驱动电路的共模电压变化率在安全耐受范围内；采样单元，其输入端连接升压单元，获取升压单元的工作电流，并对工作电流进行采样，生成采样电流；比较单元，连接设置在采样单元与升压单元之间，当比较单元判断采样电流是落在升压单元安全工作电流范围内时，比较单元生成用于驱动升压单元工作的驱动信号，比较单元还用于调节所述升压单元安全工作电流范围。本发明还提供一种自举型半桥驱动器共模电压变化率耐受测试方法。

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