一种测量蜗轮副双啮误差的结构

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专利名称	一种测量蜗轮副双啮误差的结构
申请号	CN202110071864.2	申请日期	2021-01-20
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-04	公开/公告号	CN112902849A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;M;1;3;/;0;2;1查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	石照耀;张临涛;汤洁;叶勇;付瑛;杨炳耀;姜盟
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	刘萍

摘要

一种测量蜗轮副双啮误差的结构属于齿轮测量技术领域。本发明介绍了此蜗轮副双面啮合测量仪的系统结构，蜗轮副双啮仪测量中心距和中心高可根据被测工件尺寸进行调节，因此可测量多种规格的蜗轮蜗杆。仪器可以将测量通过测量软件实时呈现出来，测量范围广，测量精度高，可满足生产现场蜗轮蜗杆的快速测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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