表面粗糙度检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200810223654.5
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2008-09-28
申请人：
北京时代之峰科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	表面粗糙度检测装置
申请号	CN200810223654.5	申请日期	2008-09-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-02-11	公开/公告号	CN101363725
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	北京时代之峰科技有限公司	申请人地址	北京市海淀区上地西路28号2幢3层2313室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京时代之峰佳亿科技有限责任公司	当前权利人	北京时代之峰佳亿科技有限责任公司
发明人	李粉兰;段海峰;郝建国;许祖茂;李俊国
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	田野

摘要

本发明提供一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，被测表面与检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。本发明的表面粗糙度检测装置，既避免了反射光对测量结果的影响，又减少了吸收装置而降低成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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