半导体存储器件及其检验与使用方法

发明专利无效专利

申请号：
CN99103028.1
IPC分类号：--
申请日期：
1999-03-19
申请人：
日本电气株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体存储器件及其检验与使用方法
申请号	CN99103028.1	申请日期	1999-03-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1999-09-29	公开/公告号	CN1229999
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	日本电气株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本电气株式会社	当前权利人	日本电气株式会社
发明人	森屋隆昭
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	穆德骏;黄敏

摘要

提供一种半导体存储器件、以及检验该半导体存储器件的一种方法和使用它的方法，它简化了操作的普通模式和操作测试模式之间的转换，缩短了用于错误检测和错误校正的测试时间。根据本发明的半导体存储器件包括：存储电路，代码标识单元(写数据寄存器和错误校正码发生电路)，错误处理单元(错误检测电路和错误校正电路)，和转换电路。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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