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LED模组综合性能测试试验台

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910194547.9
  • IPC分类号:G01M11/02;G01N21/88;G01R31/26
  • 申请日期:
    2009-08-25
  • 申请人:
    上海诚测电子科技发展有限公司
著录项信息
专利名称LED模组综合性能测试试验台
申请号CN200910194547.9申请日期2009-08-25
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2011-03-30公开/公告号CN101995326A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人上海诚测电子科技发展有限公司申请人地址
上海市浦东新区金台路115弄19号301室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海诚测电子科技发展有限公司当前权利人上海诚测电子科技发展有限公司
发明人姚晓栋;薛波;罗文君
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明是一种LED测量技术领域的LED模组综合性能测试试验台。双工位模式具有2套独立的自动上下料机、PCB检测机、LED模组电参数检测机、LED模组光强检测机、LED模组光谱参数和色度检测机、LED模组缺陷修补机、合格品和不合格品分拣机,可同时对两种不同规格的LED模组进行测试。采用转动分选模式,结合计算机与运动控制卡,控制各测试机的独立运行,可高效地匹配多品种在线快速测试分选。本发明能够适应多种规格的LED模组性能测试,操作简单方便、自动化程度高,能够有效、全面地反映被测LED模组的综合性能指标,对于提高LED模组的质量控制和对LED模组行业产业化关键测试技术的研究工作具有实际意义。

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