IC测试处理机的机台配置及其加工流程

发明专利无效专利

申请号：
CN02122740.3
IPC分类号：--
申请日期：
2002-06-07
申请人：
达司克科技股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	IC测试处理机的机台配置及其加工流程
申请号	CN02122740.3	申请日期	2002-06-07
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2003-12-31	公开/公告号	CN1464312
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	达司克科技股份有限公司	申请人地址	台湾省高雄市前镇区新都路36号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	达司克科技股份有限公司	当前权利人	达司克科技股份有限公司
发明人	蔡译庆
代理机构	北京集佳专利商标事务所	代理人	王学强

摘要

本发明为一种IC测试处理机的机台配量及其加工流程，其具有：堆叠供料缓冲部，可大量层叠待测试的IC，减少停机进料的时间；空IC托盘调度机构，可将供料缓冲部的取完IC的空的供料托盘吸起，集中在空IC托盘堆叠区备用；双IC输送臂，各具有双吸取头，可一次吸取对IC；往复运送暂存盘，以一对彼此错位发暂存盘来送入/送出IC测试区，能令测试区的测试执行持续而不中断；IC完测放置区，系统自动判断该IC测试结果，并将测试结果的合格品及其他等级品分类放置，等等各个部门。能充分利用其机构跟机构间的运动空间特性与方向，组合成一高效率、所占用空间最小的机台配置及加工流程最简约的工作机台。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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