基于合成孔径聚焦的超声渡越时间检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510127393.3
IPC分类号：G01N29/12;G01N29/07;G06F19/00
申请日期：
2005-12-27
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	基于合成孔径聚焦的超声渡越时间检测方法
申请号	CN200510127393.3	申请日期	2005-12-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-07-19	公开/公告号	CN1804611
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/12 通过测量声波的频率或谐振〔5，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;1;2;;;G;0;1;N;2;9;/;0;7;;;G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	刚铁;迟大钊;袁媛
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	王吉东

摘要

基于合成孔径聚焦的超声渡越时间检测方法，它涉及板材及焊缝中缺陷的超声波无损检测领域，其目的是为了克服现有技术中采用超声渡越时间法无法准确定位和定量分析板材及其结构焊缝中的缺陷的问题。本发明利用超声渡越时间法获取原始B扫描图像，然后对B扫描图像进行线性化处理，再根据B扫描图像的形成过程、探头和缺陷位置的几何关系，建立了基于合成孔径聚焦的超声渡越时间法B扫描图像重建的数学模型，最后实现图像的线性化-合成孔径聚焦(L-SAFT)重建。本发明为构件的结构完整性、裂纹扩展情况及剩余寿命预测提供准确的数据。可对开口型以及内部埋藏型的缺陷进行定位定量测量。采用本发明L-SAFT重建图像的纵向时间分辨率可达0.01μs，横向距离分辨可达设定的最小扫描步长尺寸。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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