地物光谱获取方法及装置、高光谱图像目标探测方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310021964.X
IPC分类号：G01J3/28
申请日期：
2013-01-18
申请人：
中国科学院对地观测与数字地球科学中心

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著录项信息

专利名称	地物光谱获取方法及装置、高光谱图像目标探测方法及装置
申请号	CN201310021964.X	申请日期	2013-01-18
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-05-22	公开/公告号	CN103115679A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	中国科学院对地观测与数字地球科学中心	申请人地址	北京市海淀区邓庄南路9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院对地观测与数字地球科学中心	当前权利人	中国科学院对地观测与数字地球科学中心
发明人	张兵;高连如;孙旭;吴远峰;郭乾东;高建威
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	王宝筠

摘要

本发明实施例提供了一种地物光谱获取方法及装置，通过计算高光谱图像中的像元与目标光谱库中的光谱的线性相关性，确定与目标光谱库中的光谱线性相关性最小的像元的光谱作为背景地物光谱，因此，仅依据高光谱图像及目标光谱库即可确定背景地物光谱，而无需人工实地测量，所以，大大方便了地物光谱的获取，提高了获取地物光谱的效率。并且，在上述获取地物光谱的基础上，进行高光谱图像目标探测，能够提高探测的精度及效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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