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一种集成电路测试装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010398482.6
  • IPC分类号:G01R31/28
  • 申请日期:
    2020-05-12
  • 申请人:
    通富微电子股份有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路测试装置
申请号CN202010398482.6申请日期2020-05-12
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-09-04公开/公告号CN111624463A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G01R31/28查看分类表>
申请人通富微电子股份有限公司申请人地址
江苏省南通市崇川路2*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人通富微电子股份有限公司当前权利人通富微电子股份有限公司
发明人张健
代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)代理人黎坚怡
摘要
本申请公开了一种集成电路测试装置,包括:测试插座,其第一表面设置有至少一个测试区域,每个测试区域设置有多个测试针,用于与待测集成电路形成通路,以测试待测集成电路的电性参数;至少一个发光元件,每个测试区域对应设置有一个发光元件,且发光元件发出的光线能够从第一表面射出;其中,当测试区域设置有待测集成电路时,发光元件发出的光线被待测集成电路遮挡;当测试区域未设置待测集成电路时,发光元件发出的光线未被待测集成电路遮挡。发光元件在测试区域发出的光被遮挡和未被遮挡这两种情况的对比鲜明,容易分辨,使本申请提供的测试装置能够及时检测出测试插座中未被取走的集成电路,降低集成电路产品误测、误分类的几率。

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