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一种半导体硅圆片清洗用分离装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202020190678.1
  • IPC分类号:H01L21/67
  • 申请日期:
    2020-02-20
  • 申请人:
    天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司
著录项信息
专利名称一种半导体硅圆片清洗用分离装置
申请号CN202020190678.1申请日期2020-02-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/67IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;7查看分类表>
申请人天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司申请人地址
天津市滨海新区华苑产业园区(环外)海泰东路12号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津中环领先材料技术有限公司,中环领先半导体材料有限公司当前权利人天津中环领先材料技术有限公司,中环领先半导体材料有限公司
发明人祝斌;刘姣龙;裴坤羽;武卫;孙晨光;刘建伟;王彦君;王聚安;由佰玲;刘园;常雪岩;杨春雪;谢艳;刘秒;吕莹;徐荣清
代理机构天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人栾志超
摘要
本实用新型提供一种半导体硅圆片清洗用分离装置,包括槽体,所述槽体内设有用于承载竖直放置硅圆片的片篮;在所述槽体内设有用于推动所述硅圆片并使所述硅圆片从所述片篮中移出的分离部件,所述分离部件被设置贯穿于所述片篮底部。本实用新型提出的分离装置,尤其适用于大尺寸硅圆片的操作,整体结构简单、安全性高,可快速使硅圆片从片篮中脱离,并可被安全地移动到下一工序中。

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