电子部件的高频特性误差修正方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200780044053.1
IPC分类号：G01R27/28;G01R35/00
申请日期：
2007-11-29
申请人：
株式会社村田制作所

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著录项信息

专利名称	电子部件的高频特性误差修正方法
申请号	CN200780044053.1	申请日期	2007-11-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-23	公开/公告号	CN101542299
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/28 衰减、增益、相移或四端网络，即双端对网络的派生特性的测量；瞬态响应的测量（在线路传输系统中的入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;2;8;;;G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	株式会社村田制作所	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社村田制作所	当前权利人	株式会社村田制作所
发明人	藤井直树;神谷岳;森太一
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	李香兰

摘要

电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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