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蚀刻液、半导体封装器件及半导体封装器件的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201611246164.8
  • IPC分类号:C23F1/14;H01L21/3213
  • 申请日期:
    2016-12-29
  • 申请人:
    通富微电子股份有限公司
著录项信息
专利名称蚀刻液、半导体封装器件及半导体封装器件的制备方法
申请号CN201611246164.8申请日期2016-12-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-05-31公开/公告号CN106757028A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23F1/14IPC分类号C;2;3;F;1;/;1;4;;;H;0;1;L;2;1;/;3;2;1;3查看分类表>
申请人通富微电子股份有限公司申请人地址
江苏省南通市崇川路288号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人通富微电子股份有限公司当前权利人通富微电子股份有限公司
发明人施建根
代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)代理人钟子敏
摘要
本发明公开了一种蚀刻液、半导体封装器件及半导体封装器件的制备方法,所述蚀刻液包括0.5‑5质量份的颗粒,所述颗粒为实心结构,所述颗粒的粒径为1‑10nm;或者,所述颗粒为多孔结构,所述颗粒的所述多孔结构的孔径为1‑10nm;所述半导体封装器件包括金属再布线层,所述金属再布线层的表面通过所述的蚀刻液蚀刻处理。通过上述方式,本发明能够增加金属再布线层与其上方材料的结合力。

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