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测试及更新系统和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610026151.X
  • IPC分类号:G06F11/14;G06F9/445
  • 申请日期:
    2006-04-27
  • 申请人:
    宇达电脑(上海)有限公司;神达电脑股份有限公司
著录项信息
专利名称测试及更新系统和方法
申请号CN200610026151.X申请日期2006-04-27
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2007-10-31公开/公告号CN101063950
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/14IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;1;4;;;G;0;6;F;9;/;4;4;5查看分类表>
申请人宇达电脑(上海)有限公司;神达电脑股份有限公司申请人地址
上海市浦东外高桥保税区富特北路129号;上海市浦东外高桥保税区富特北路129号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人宇达电脑(上海)有限公司,神达电脑股份有限公司当前权利人宇达电脑(上海)有限公司,神达电脑股份有限公司
发明人章畅海
代理机构暂无代理人暂无
摘要
一种测试及更新系统,用以测试及更新一电路板上的待测单元,并与该电路板电性连接,该测试及更新系统包括:一存储单元,用以储存一更新该待测单元的数据;一测试单元,用以测试该待测单元是否无法启动开机,若是则更换该待测单元,否则更新该待测单元的数据;以及一控制单元,用以依据该测试单元测试后需更新该待测单元的结果,而控制该存储单元撷取更新该待测单元的数据,以更新该待测单元的数据。本发明通过测试该待测单元的当前数据情况,并依据测试结果自动执行数据更新作业,不仅可避免待测单元因数据损坏而造成无法启动的异常情形,亦可提高维修工作效率并降低维修成本。

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