基于色阻颜色的对位方法及对位系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201711478763.7
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/66;G06T7/73;G06T7/90;G02F1/1335;G02F1/13
申请日期：
2017-12-29
申请人：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于色阻颜色的对位方法及对位系统
申请号	CN201711478763.7	申请日期	2017-12-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-09-21	公开/公告号	CN108564560A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;6;6;;;G;0;6;T;7;/;7;3;;;G;0;6;T;7;/;9;0;;;G;0;2;F;1;/;1;3;3;5;;;G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	当前权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
发明人	严道波
代理机构	深圳市铭粤知识产权代理有限公司	代理人	孙伟峰;武岑飞

摘要

本发明公开了一种基于色阻颜色的对位方法及对位系统，所述方法包括：S1、获取各子色阻在光源下的光阻特征值，根据光阻特征值设定画素阙值；S2、根据画素阙值对画素进行二值化处理，得到二值化画素；S3、根据二值化画素计算对位位置，根据对位位置进行色阻的对位。本发明可有效避免COA产品金属线和图形形貌的干扰，提升COA产品量测稳定性；可应对多种形态像素对位，测量位置计算逻辑可编辑，像素不规则时，可选用合理逻辑定义测量位置；二值化处理，可突显色阻特征，颜色识别准确性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供