基于非下采样Contourlet域MRF模型的SAR图像降斑方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010267505.6
IPC分类号：G06T5/00;G01S13/90
申请日期：
2010-08-30
申请人：
西安电子科技大学

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著录项信息

专利名称	基于非下采样Contourlet域MRF模型的SAR图像降斑方法
申请号	CN201010267505.6	申请日期	2010-08-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-01-19	公开/公告号	CN101950413A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T5/00 图像的增强或复原，如从位像到位像地建立一个类似的图形〔6〕	IPC分类号	G;0;6;T;5;/;0;0;;;G;0;1;S;1;3;/;9;0查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	侯彪;焦李成;王倩;王爽;张向荣;马文萍
代理机构	陕西电子工业专利中心	代理人	王品华;朱红星

摘要

本发明公开了一种基于非下采样Contourlet域MRF模型的SAR图像降斑方法，主要解决传统多尺度几何分析应用于SAR图像降斑易产生匀质区域不够光滑，细节信息不够完整，点目标不够清晰的问题。其降斑过程为：对待降斑SAR图像作对数运算，得到图像数据；对图像数据进行非下采样Contourlet变换，得到变换系数Cj，l；估计图像数据噪声在非下采样Contourlet域的标准差σj，l；根据Cj，l和σj，l对掩码Xj，l进行初始估计并迭代更新，得到Xj，l的最终估计；利用Xj，l的最终估计，对Cj，l进行收缩，得到估计系数Yj，l；对Yj，l作指数运算，并对其进行非下采样Contourlet逆变换，得到最终的降斑图像。本发明具有降斑结果同质区域光滑，纹理信息和边缘信息的完整性保持较好，以及点目标清晰可见，可用于SAR图像目标识别。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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