老化箱

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专利名称	老化箱
申请号	CN200820093065.5	申请日期	2008-04-01
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳市大族激光科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新科技园松坪山工厂区5号路8号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市大族激光科技股份有限公司	当前权利人	深圳市大族激光科技股份有限公司
发明人	高云峰;钟于萍
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型揭露一种老化箱，所述老化箱包括电源部分、温控部分、热循环部分、电源输出部分以及负载接口部分，电源部分由总空气开关通过转接排并联连接空气开关1－6、温控部分及热循环部分，空气开关1－6输出端作为电源输出部分并与负载接口部分连接。本实用新型通过采用上述结构可以优化老化结构，提高老化效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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