基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200910218491.6
IPC分类号：G01J1/42
申请日期：
2009-10-23
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统
申请号	CN200910218491.6	申请日期	2009-10-23
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2011-05-04	公开/公告号	CN102042873A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/42 采用电辐射检测器（光学或机械部件入G01J 1/04；与基准光或基准电参数作比较的入G01J 1/10）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;4;2查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	重庆市渝北区杨柳北路6号15层1-4号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆中科摇橹船信息科技有限公司	当前权利人	重庆中科摇橹船信息科技有限公司
发明人	达争尚;刘力;田新锋;李东坚
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	商宇科;李东京

摘要

一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法，该方法包括以下步骤：1)校准CCD器件：2)平行光场强度均匀性认定。本发明采用积分球将均匀强度标准传递至CCD，解决了均匀强度基准问题；本发明采用奇异点剔除、“标准块”方法进一步降低了CCD器件电子噪声的影响，保证了基准的精度；本发明采用旋转、平移方式实现了小靶面的CCD对大口径光场均匀性的认定，提高了分辨率；本发明采用以上方法认定的光场均匀性误差是确定的，即选定“标准块”时设定的误差是确定，能够精确测量平行光场的强度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供