X射线微分干涉相衬成像系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200810216469.3
IPC分类号：G01N23/04;A61B6/03;G03B42/02
申请日期：
2008-10-10
申请人：
深圳大学

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著录项信息

专利名称	X射线微分干涉相衬成像系统
申请号	CN200810216469.3	申请日期	2008-10-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-04-22	公开/公告号	CN101413905
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;A;6;1;B;6;/;0;3;;;G;0;3;B;4;2;/;0;2查看分类表>
申请人	深圳大学	申请人地址	广东省深圳市南山区南海大道2336号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳大学	当前权利人	深圳大学
发明人	牛憨笨;郭金川;刘鑫
代理机构	深圳市智科友专利商标事务所	代理人	曲家彬

摘要

本发明涉及一种X射线微分干涉相衬成像系统。适用于医学和无损探伤等领域。系统组成中按照X射线传播方向包括X射线管、滤波器、样品台、相位光栅及X射线探测器，系统中还包括微机和配套的系统管理软件，关键在于：①系统中采用的X射线管中具有呈平行线状分布的、相干高能X射线发射体，发射角为30—50度。②所采用的X射线探测器具有分析光栅和探测器的双重功能，基本组成中包括平行线阵列式X射线转换屏、中继光学系统和面阵探测器或包括平行线阵列式光电导X射线探测器，X射线转换屏或光电导X射线探测器其结构组成和尺寸与上述X射线管中呈平行线状分布的、相干高能X光源及相位光栅对应配套。

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