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放射源定位方法、装置及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310602906.6
  • IPC分类号:G01T1/00;G01T1/18
  • 申请日期:
    2013-11-25
  • 申请人:
    中国科学院高能物理研究所
著录项信息
专利名称放射源定位方法、装置及系统
申请号CN201310602906.6申请日期2013-11-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-03-19公开/公告号CN103645491A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01T1/00IPC分类号G;0;1;T;1;/;0;0;;;G;0;1;T;1;/;1;8查看分类表>
申请人中国科学院高能物理研究所申请人地址
北京市石景山区玉泉路19号(乙院) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院高能物理研究所当前权利人中国科学院高能物理研究所
发明人魏龙;张译文;李道武;章志明;王宝义;帅磊;王英杰;朱美玲;孙世峰;张玉包;唐浩辉;黄先超;柴培;李婷;庄凯;姜小盼;刘彦韬;周魏;曾凡剑
代理机构北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)代理人孟阿妮
摘要
本发明公开了一种放射源定位方法、装置及系统。该方法包括:根据模拟数据获取探测器的晶体阵列中晶体计数比与放射源角度的关系;测量待测放射源放射射线时所述晶体阵列的实测晶体计数;在计数噪声的变化范围内,根据所述实测晶体计数以及各所述计数噪声获取多个去噪晶体计数比,根据所述晶体计数比与放射源角度的关系获取与各所述去噪晶体计数比相对应的各实测放射源角度,并选取计数噪声最优时的实测放射源角度为所述待测放射源的放射源角度。该装置包括:处理模块、测量模块和计算模块。该系统包括:放射源定位装置、待测放射源和探测器。本发明采用晶体计数比作为计算参数,采用有效的扣除噪声技术,提高了放射源定位的灵敏度和准确度。

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