旋转式多晶硅样芯取样钻具

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020178360.8
IPC分类号：G01N1/08
申请日期：
2010-05-04
申请人：
雅安永旺硅业有限公司

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著录项信息

专利名称	旋转式多晶硅样芯取样钻具
申请号	CN201020178360.8	申请日期	2010-05-04
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/02 取样装置 G01N1/04 固体的，如采用切割 G01N1/08 用提取工具，如岩心钻头	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;0;8查看分类表>
申请人	雅安永旺硅业有限公司	申请人地址	四川省雅安市雅安工业园区雅安永旺硅业有限公司变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	雅安永旺硅业有限公司	当前权利人	雅安永旺硅业有限公司
发明人	钱承荣;曾品贵;白锐;任云
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种旋转式多晶硅样芯取样钻具。该旋转式多晶硅样芯取样钻具包括摇臂钻床(7)、空心钻柄(4)、空心钻头(3)，所述空心钻柄(4)固定于摇臂钻床(7)的主轴箱的旋转结构的末端，空心钻头(3)与空心钻柄(4)固定连接，所述摇臂钻床(7)的工作平台(6)处设有用于固定多晶硅样棒(1)的固定结构，多晶硅样棒(1)位于空心钻头(3)下方。本实用新型的旋转式多晶硅取样装置能确保安全取样，可以避免多晶硅样棒在高速旋转时碎裂飞溅出来造成人身伤害。并且可满足不同的取样方案，在多晶硅样棒上的平行位置或垂直位置上连续钻取样芯，或在一段多晶硅样棒上连续取样，满足对大直径多晶硅取样检验的国家标准要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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