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成膜方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910022599.1
  • IPC分类号:C23C16/455;C23C16/04;C23C16/40;C23C16/458;C23C16/52;C23C16/56;H01J37/32;H01L21/02
  • 申请日期:
    2019-01-10
  • 申请人:
    东京毅力科创株式会社
著录项信息
专利名称成膜方法
申请号CN201910022599.1申请日期2019-01-10
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-07-19公开/公告号CN110029325A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C16/455IPC分类号C;2;3;C;1;6;/;4;5;5;;;C;2;3;C;1;6;/;0;4;;;C;2;3;C;1;6;/;4;0;;;C;2;3;C;1;6;/;4;5;8;;;C;2;3;C;1;6;/;5;2;;;C;2;3;C;1;6;/;5;6;;;H;0;1;J;3;7;/;3;2;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人东京毅力科创株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东京毅力科创株式会社当前权利人东京毅力科创株式会社
发明人木原嘉英;横山乔大
代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明提供一种在形成于被处理基片上的图案上成膜的成膜方法,其中,该被处理基片被配置在载置台上,所述载置台设置在能够在减压环境下进行等离子体处理的空间内,在该空间中配置有与该载置台相对的能够被供给高频电力的上部电极。该成膜方法在对被处理基片的主面的多个区域中的每个区域执行了调节该被处理基片的所述主面的温度的步骤之后,反复执行包括第一步骤和第二步骤的流程,即第一步骤,在被处理基片的所述图案上形成沉积膜;第二步骤,仅对上部电极供给电力来在空间中产生等离子体,从而对该空间进行清扫。由此,不论进行成膜的等离子体处理的进展程度如何,都能够使被处理基片上的膜的形成方式相同。

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