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一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811181722.6
  • IPC分类号:G01B7/312
  • 申请日期:
    2018-10-11
  • 申请人:
    中国科学院电工研究所
著录项信息
专利名称一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置
申请号CN201811181722.6申请日期2018-10-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-01-15公开/公告号CN109211101A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B7/312IPC分类号G;0;1;B;7;/;3;1;2查看分类表>
申请人中国科学院电工研究所申请人地址
北京市海淀区中关村北二条6号中科院电工所 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院电工研究所当前权利人中国科学院电工研究所
发明人王岩;赵伟霞;刘俊标;殷伯华;董增雅;王丽娟;韩立
代理机构北京高沃律师事务所代理人程华
摘要
本发明公开了一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置。电子束对中检测管,包括:绝缘件、输出电极以及检测感应片;绝缘件与输出电极采用钎焊方式焊接在一起;多个检测感应片围成一个中空结构;绝缘件包裹于所述中空结构的上部;中空结构置于电子束管内;输出电极与检测感应片一一对应;输出电极沿着绝缘件的内壁穿出,与外部的电信号检测装置相连接;电子束管内的电子束与感应片相接触时产生电信号,电信号通过输出电极传输至电信号检测装置,若电信号检测装置接收到电信号时,则电子束未处于合轴状态,对电子束进行对中校正调试。采用本发明所提供的电子束对中检测管以及电子束对中检测装置能够降低电子束对中校正调试难度,缩短调试时间。

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