一种半导体致冷片老化测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201910626235.4
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2019-07-11
申请人：
泉州市依科达半导体致冷科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种半导体致冷片老化测试装置
申请号	CN201910626235.4	申请日期	2019-07-11
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-30	公开/公告号	CN110187252A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司	申请人地址	福建省泉州市经济开发区孵化基地科技工业楼二楼A区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司	当前权利人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司
发明人	阮秀沧;黄锦局
代理机构	北京轻创知识产权代理有限公司	代理人	吴东勤

摘要

本发明提供了一种半导体致冷片老化测试装置，涉及半导体致冷片技术领域。半导体致冷片老化测试装置包括测试台、限位组件、第一导热板、第二导热板和测试控制器，第一导热板的底面与待测致冷片的冷面贴合，测试控制器包括处理器、供电电源、变换开关、检测组件和计时计数器，变换开关设于供电电源与所述待测致冷片之间，检测组件包括温度传感器和电流传感器，电流传感器的输入端与致冷片电性连接。本发明通过测试控制器的设计，以采用自动化的方式对待测致冷片进行老化测试，防止了由于采用人工手动测试导致的测试效率低下、测试精准度低的现象。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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