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阵列基板检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200420103601.7
IPC分类号：G01R31/02;G01R31/00
申请日期：
2004-12-28
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	阵列基板检测装置
申请号	CN200420103601.7	申请日期	2004-12-28
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,群创光电股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,群创光电股份有限公司
发明人	林至成;吴泽
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种阵列基板检测装置。该阵列基板检测装置包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件、一位于该光电元件一侧的光侦测器和一与该光侦测器连接的计算器系统，待测阵列基板设置在光电元件与光源之间。采用该阵列基板检测装置可提高检测效率。

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