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成膜方法和成膜装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910695080.X
  • IPC分类号:C23C16/34;C23C16/40;H01J37/32
  • 申请日期:
    2019-07-30
  • 申请人:
    东京毅力科创株式会社
著录项信息
专利名称成膜方法和成膜装置
申请号CN201910695080.X申请日期2019-07-30
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2020-02-11公开/公告号CN110777358A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C16/34IPC分类号C;2;3;C;1;6;/;3;4;;;C;2;3;C;1;6;/;4;0;;;H;0;1;J;3;7;/;3;2查看分类表>
申请人东京毅力科创株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东京毅力科创株式会社当前权利人东京毅力科创株式会社
发明人高藤哲也;藤永元毅;渡边幸夫
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)代理人刘新宇
摘要
本发明提供一种成膜方法和成膜装置,用于在形成氧化物半导体的保护膜时减少等离子体对氧化物半导体给予的损伤。成膜方法包括:第一成膜工序,使用第一高频电力来生成含有含氧气体、SiF4气体以及SiCl4气体、且SiCl4气体与SiF4气体的流量比为第一流量比的混合气体的等离子体,并在氧化物半导体上形成第一氧化硅膜;以及第二成膜工序,使用第二高频电力来生成含有含氧气体、SiF4气体以及SiCl4气体、且SiCl4气体与SiF4气体的流量比为第二流量比的混合气体的等离子体,并在第一氧化硅膜上形成第二氧化硅膜,其中,第一高频电力低于第二高频电力,第一流量比小于第二流量比。

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