测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN03230576.1
IPC分类号：--
申请日期：
2003-04-22
申请人：
上海华园微电子技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置
申请号	CN03230576.1	申请日期	2003-04-22
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	上海华园微电子技术有限公司	申请人地址	上海市宜山路900号A区六楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华园微电子技术有限公司	当前权利人	上海华园微电子技术有限公司
发明人	陈桂岭;廖圣宜;印义中;印义言
代理机构	上海开祺专利代理有限公司	代理人	李兰英

摘要

本实用新型涉及一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，包括印制电路板(1)，卡触点(11)，验证的集成电路卡中的芯片(12)，跳线器(13)，存储器(14)和测试模式端口(15)安装在所述的印制电路板(1)上；所述的卡触点(11)和测试模式端口(15)与验证的集成电路卡中的芯片(12)连接，所述的验证的集成电路卡中的芯片(12)的控制线(126)通过跳线器(13)与所述的存储器(14)连接，其数据总线(128)和地址总线(127)通过印制电路板(1)与存储器(14)连接；在测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容过程中，完全与需生产的集成电路卡一致，且价格低廉。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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