决定物镜位置差与驱动电压间相对关系的方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200310120478.X
IPC分类号：G01B21/02;G11B7/00
申请日期：
2003-12-17
申请人：
联发科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	决定物镜位置差与驱动电压间相对关系的方法及装置
申请号	CN200310120478.X	申请日期	2003-12-17
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-06-22	公开/公告号	CN1629600
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;2;;;G;1;1;B;7;/;0;0查看分类表>
申请人	联发科技股份有限公司	申请人地址	台湾省新竹市新竹科学工业园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	联发科技股份有限公司	当前权利人	联发科技股份有限公司
发明人	张鸿祥;王福山
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	吕晓章;马莹

摘要

一种用于一光存储装置的方法，该光存储装置包含有一读取头，该读取头上包含有一物镜、一第一光源及一第二光源，该物镜可将该第一光源聚焦于一第一聚焦点或将该第二光源聚焦于一第二聚焦点，该第一聚焦点与该第二聚焦点相距一预设距离，一驱动电压可改变该物镜的位置，该方法包含有：(a)提供该驱动电压以改变该物镜的位置；(b)测量当该第一聚焦点通过一光盘内的一预设层时的一第一参数；(c)测量当该第二聚焦点通过该光盘内的该预设层时的一第二参数；以及(d)依据该预设距离，该第一参数，及该第二参数来决定该物镜的位置差与该驱动电压间的该相对关系。

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