用于电子设备的老化测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821867546.7
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2018-11-13
申请人：
OPPO（重庆）智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	用于电子设备的老化测试装置
申请号	CN201821867546.7	申请日期	2018-11-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	OPPO（重庆）智能科技有限公司	申请人地址	重庆市渝北区回兴街道霓裳大道24号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	OPPO（重庆）智能科技有限公司	当前权利人	OPPO（重庆）智能科技有限公司
发明人	刘海鸥
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	黄德海

摘要

本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括：箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本实用新型的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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