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平行板电容型MEMS加速度计内建自测试电路及自测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610161273.3
  • IPC分类号:G01P15/125;G01P21/00
  • 申请日期:
    2016-03-21
  • 申请人:
    江苏物联网研究发展中心
著录项信息
专利名称平行板电容型MEMS加速度计内建自测试电路及自测试方法
申请号CN201610161273.3申请日期2016-03-21
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2016-08-03公开/公告号CN105823907A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P15/125IPC分类号G;0;1;P;1;5;/;1;2;5;;;G;0;1;P;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人江苏物联网研究发展中心申请人地址
北京市海淀区上地四街1号25号楼9单元1层120室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京中科微知识产权服务有限公司当前权利人北京中科微知识产权服务有限公司
发明人余丹;李佳
代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)代理人殷红梅;屠志力
摘要
本发明提供一种平行板电容型MEMS加速度计内建自测试电路,以及一种自测试方法,对平行板电容加速度计提供电激励,将电容传感模块输出的信号进行放大,模数转换和数字处理,根据不同条件下的自测试供电电压V1和V2以及电容传感模块的输出响应Vc分析其灵敏度S,从而实现对平行板电容型MEMS加速度计的工艺缺陷进行诊断并且对电容加速度计的灵敏度S进行内建自测试。优化了外部环境和寄生电容对输出信号的影响,提高测试的标准化程度、降低对复杂测试仪器的依赖度,从而有效降低其测试与产品成本。

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