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改善多晶硅结晶率的方法及装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201310128323.4
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2013-04-12
  • 申请人:
    上海和辉光电有限公司
著录项信息
专利名称改善多晶硅结晶率的方法及装置
申请号CN201310128323.4申请日期2013-04-12
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2013-08-07公开/公告号CN103236399A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人上海和辉光电有限公司申请人地址
上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海和辉光电有限公司当前权利人上海和辉光电有限公司
发明人钟尚骅;叶昱均
代理机构上海申新律师事务所代理人竺路玲
摘要
本发明公开了一种改善多晶硅结晶率的方法,应用于非晶硅层转化为多晶硅层的工艺中,具体为叠加至少两脉冲激光束形成叠加脉冲激光束,且叠加脉冲激光束的脉冲宽度大于每个脉冲激光束的脉冲宽度,利用该叠加脉冲激光束照射非晶硅层,以使非晶硅层转化为多晶硅层;通过使用至少两个准分子激光源,调制激光的脉冲宽度,形成一具有较长脉冲宽度的叠加脉冲激光束照射于非晶硅层表面,在将非晶硅层转化为多晶硅层的同时,还降低了激光的峰值功率,减小了氢爆现象的发生几率,从而克服了由氢爆现象导致的多晶硅薄膜脱落而污染光镜组的问题,进而提高了多晶硅的结晶率。

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