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一种晶粒细化方法及其细化装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010264296.X
  • IPC分类号:C21D7/00;C21D1/04
  • 申请日期:
    2010-08-27
  • 申请人:
    武汉理工大学
著录项信息
专利名称一种晶粒细化方法及其细化装置
申请号CN201010264296.X申请日期2010-08-27
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2011-01-26公开/公告号CN101956051A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C21D7/00IPC分类号C;2;1;D;7;/;0;0;;;C;2;1;D;1;/;0;4查看分类表>
申请人武汉理工大学申请人地址
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉理工大学当前权利人武汉理工大学
发明人华林;刘艳雄;魏文婷;张小娜
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司代理人唐万荣
摘要
本发明提供的一种晶粒细化方法为:将坯料进行等径角挤压,同时用超声波作用在坯料上,得到超细晶材料。提供的一种晶粒细化装置,包括等径角挤压模具。其特别之处在于:它还包括超声波系统,所述超声波系统的输出端与等径角挤压模具的出口距离为0~500mm、并位于同一水平面。与现有等径角挤压方式相比,本发明通过采用超声波系统,使材料在通过等径角挤压模具转角处、发生剧烈剪切变形的同时,在超声波的作用下,引起材料晶界的剧烈振动,使晶界破碎,从而显著提高了细化晶粒的效果,尤其适用于大径向尺寸纳米晶材料的制备。

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