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局部吸收率测量设备和测量局部吸收率的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN03816999.1
  • IPC分类号:G01R29/08;H04B17/00;H04B7/26
  • 申请日期:
    2003-05-09
  • 申请人:
    松下电器产业株式会社
著录项信息
专利名称局部吸收率测量设备和测量局部吸收率的方法
申请号CN03816999.1申请日期2003-05-09
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2005-09-14公开/公告号CN1668930
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R29/08IPC分类号G;0;1;R;2;9;/;0;8;;;H;0;4;B;1;7;/;0;0;;;H;0;4;B;7;/;2;6查看分类表>
申请人松下电器产业株式会社申请人地址
日本大阪府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人松下电器产业株式会社当前权利人松下电器产业株式会社
发明人小柳芳雄;斋藤裕;小川晃一;梶原正一;尾崎晃弘;浅山叔孝
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人郭定辉;黄小临
摘要
提供一种能够在短时间内高精度地估计生产线上的小型无线电设备的局部SAR的局部SAR测量设备。所述局部SAR测量设备包括:数个电磁探针(1),用于在菲涅耳区中接收来自从移动式电话的机身(11)伸出来的移动式电话天线(12)的传输功率;合成器(2),用于合成接收功率;和信号处理器(3),用于进行从合成的接收功率中估计局部SAR。数个电磁探针(1)用于测量其局部SAR值通过精确测量知道的基准移动式电话和待测移动式电话的接收功率,以便利用SAR值与接收功率成正比关系,来估计待测移动式电话的SAR值。因此,可以在短时间内高精度地测量和估计大量移动式电话的SAR值。

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