一种多通道电阻测试系统及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811456931.7
IPC分类号：G01R27/08;G01R1/04
申请日期：
2018-11-30
申请人：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所

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著录项信息

专利名称	一种多通道电阻测试系统及其测试方法
申请号	CN201811456931.7	申请日期	2018-11-30
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-01-29	公开/公告号	CN109283395A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/08 通过测量电流和电压来测量电阻	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;0;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	申请人地址	上海市长宁区长宁路865号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	当前权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所
发明人	吕越;高波;伍文涛;王镇
代理机构	上海光华专利事务所（普通合伙）	代理人	余明伟

摘要

本发明提供一种多通道电阻测试系统及其测试方法，所述系统包括：样品支撑结构，用于放置N个待测试样品，N个待测试样品依次串联并引出2N+2个引出端；多通道切换开关控制模块，包括N个正电压端控制开关及N个负电压端控制开关，用于根据测试选择信号控制对应开关闭合，以从N个待测试样品中选出一与测试选择信号对应的实际测试样品；电流源，用于为N个串联的待测试样品提供恒定电流；数据读取模块，用于读取实际测试样品两端的电压差值；主控模块，用于向各开关发送所述测试选择信号。通过本发明解决了采用现有测试方法进行Tc值测试时，因引入热负载导致降温缓慢，同时因手动切换引线导致测试耗时较长的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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