一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路

发明专利有效专利

申请号：
CN201510926510.6
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2015-12-14
申请人：
宁波大学

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著录项信息

专利名称	一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路
申请号	CN201510926510.6	申请日期	2015-12-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-30	公开/公告号	CN105445645A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	宁波大学	申请人地址	浙江省宁波市江北区风华路818号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	宁波大学	当前权利人	宁波大学
发明人	姚剑婷;张跃军;刘画池;贾徭;吴诒轩;王超
代理机构	宁波奥圣专利代理事务所（普通合伙）	代理人	方小惠

摘要

本发明公开了一种用于监测集成电路NBTI老化效应的数字型监测电路，包括用于产生参考信号的第一传感器、用于产生老化信号的第二传感器、相位偏差比较器、比较电路和输出电路，第一传感器的输出端和比较电路的第一输入端连接，相位偏差比较器的输出端分别与比较电路的第二输入端、比较电路的第三输入端和比较电路的使能端连接，第二传感器的输出端和比较电路的第四输入端连接，比较电路的输出端和输出电路连接，第一传感器采用的VCO电路作为参考电路，第二传感器采用的使用一段时间的VCO电路作为老化产生电路；优点是消除监测器自身存在的老化效应对老化监测结果造成的不良影响，老化监测数据准确度较高。

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