多列式接点薄膜探针

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320374517.8
IPC分类号：G01R1/067
申请日期：
2013-06-27
申请人：
智诚实业股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	多列式接点薄膜探针
申请号	CN201320374517.8	申请日期	2013-06-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	智诚实业股份有限公司	申请人地址	中国台湾台中市大雅区大林路66巷80号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	智诚实业股份有限公司	当前权利人	智诚实业股份有限公司
发明人	蔡荣峯;胡琼
代理机构	北京汇泽知识产权代理有限公司	代理人	张若华

摘要

本实用新型提供一种多列式接点薄膜探针，其包含有一测试压块，该测试压块上装设有一软性电路板及一探针单元，其中，该探针单元具有多个导线，多个导线间隔设于该软性电路板，且每一导线上各设有两个金属接点，金属接点排列成两列，借此，当其中一列金属接点损坏时，使用者还可利用另一列金属接点对电子装置进行测试，如此可有效改善现有薄膜探针于其中一金属接点损毁便需整块更换的缺点，从而达到节省成本与环保的目的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供