一种地表几何粗糙度测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610852316.2
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2016-09-27
申请人：
中国科学院遥感与数字地球研究所

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著录项信息

专利名称	一种地表几何粗糙度测量装置
申请号	CN201610852316.2	申请日期	2016-09-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2016-12-21	公开/公告号	CN106248004A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	中国科学院遥感与数字地球研究所	申请人地址	北京市朝阳区大屯路甲20号北9718信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院遥感与数字地球研究所	当前权利人	中国科学院遥感与数字地球研究所
发明人	孙刚;柳钦火;施建成;黄文江;高帅;牛铮;肖青;李旺
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种地表几何粗糙度测量装置，其包括：上下两个弧形断面支撑尺、一组固定于弧形断面支撑尺上的导向槽座、一组探针、固定两个弧形断面支撑尺的两个侧边支撑杆、连接两个侧边支撑杆的横杆、位于横杆上的水平泡、多组不同尺寸的接触靴、固定于侧边支撑杆上的背景黑布。该装置机械结构简单、轻巧便携、成本低、测量精度高，可以用于农业、土壤学、地质、微波遥感等应用领域中对地表几何粗糙度的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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