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一种倾角测量装置及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110514581.0
  • IPC分类号:G01C9/00;G01C9/02;G01B11/16;G01K11/3206
  • 申请日期:
    2021-05-11
  • 申请人:
    武汉理工大学
著录项信息
专利名称一种倾角测量装置及其制造方法
申请号CN202110514581.0申请日期2021-05-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-17公开/公告号CN113267166A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C9/00IPC分类号G;0;1;C;9;/;0;0;;;G;0;1;C;9;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;K;1;1;/;3;2;0;6查看分类表>
申请人武汉理工大学申请人地址
湖北省武汉市珞狮路122号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉理工大学当前权利人武汉理工大学
发明人徐东升;甘怡东;邓春刚;蒋芯;黄正红
代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司代理人胡辉
摘要
本发明公开了一种倾角测量装置及其制造方法,倾角测量装置包括:壳体;悬臂梁设置于壳体内,另一端上设有重物,重物作用于悬臂梁上;第一布拉格光纤光栅设置在悬臂梁的表面上,检测悬臂梁的倾斜角度;第二布拉格光纤光栅靠近固定端,位于悬臂梁的中心线上方位置,检测悬臂梁的温度变化,第一布拉格光纤光栅和第二布拉格光纤光栅串联连接。利用光纤光栅技术对温度和变形的交叉敏感特性,当被检测物体发生微小的倾斜角度,重物重力作用在悬臂梁上的力发生变化,引起第一布拉格光纤光栅的波长的变化,根据波长的变化推算出被检测结构的倾斜角度,同时内置不受外力影响的第二布拉格光纤光栅用于测量温度变化的影响,从而对受拉光栅进行补偿。

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