具有低重量X射线防护体的放射照相平板检测器

发明专利有效专利

申请号：
CN201480069401.0
IPC分类号：G01T1/20;G01T1/24;H01L27/146
申请日期：
2014-12-12
申请人：
爱克发医疗保健公司

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著录项信息

专利名称	具有低重量X射线防护体的放射照相平板检测器
申请号	CN201480069401.0	申请日期	2014-12-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-11-09	公开/公告号	CN106104304A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/20 用闪烁探测器	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;2;0;;;G;0;1;T;1;/;2;4;;;H;0;1;L;2;7;/;1;4;6查看分类表>
申请人	爱克发医疗保健公司	申请人地址	比利时莫策尔变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱克发有限公司	当前权利人	爱克发有限公司
发明人	S.埃伦;L.斯特鲁耶;D.范登布劳克;J-P.塔杭
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	周李军;杨思捷

摘要

一种放射照相平板检测器和制造具有以下给定次序的层结构的平板检测器的方法：a)闪烁体或光电导层；b)成像阵列；c)基片；d)X射线吸收层，该层包含具有20或更大的原子序数的金属元素和一种或多种非金属元素的化合物，其特征在于X射线吸收层具有对于Am241在约60keV的γ射线发射大于0.5的无量纲吸收指数；其中AE(Am24160keV)=t*(k1e1+k2e2+k3e3+…)，其中AE(Am24160keV)表示相对于Am241的约60keVγ射线发射的X射线吸收层的吸收指数；t表示X射线吸收层的厚度；e1,e2,e3,…表示X射线吸收层中元素的浓度；并且k1,k2,k3…表示相应元素的质量衰减系数，并且如果化合物为闪烁磷光体，则在X射线吸收层和基片之间存在层，并且该层在所述化合物的光发射波长具有10%或更低的光透射率。

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