双倍数据速率同步动态随机存取存储器数据选通信号校准

发明专利有效专利

申请号：
CN201880043096.6
IPC分类号：G11C29/02;G11C7/10;G11C29/12;G11C29/42
申请日期：
2018-04-24
申请人：
高通股份有限公司

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著录项信息

专利名称	双倍数据速率同步动态随机存取存储器数据选通信号校准
申请号	CN201880043096.6	申请日期	2018-04-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-02-14	公开/公告号	CN110800060A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/02 损坏的备用电路的检测或定位，例如，损坏的刷新计数器〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;2;;;G;1;1;C;7;/;1;0;;;G;1;1;C;2;9;/;1;2;;;G;1;1;C;2;9;/;4;2查看分类表>
申请人	高通股份有限公司	申请人地址	美国加利福尼亚变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	高通股份有限公司	当前权利人	高通股份有限公司
发明人	L·N·加米尼;S·慕克吉
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	张海燕

摘要

在设备中对在SDRAM数据选通(“DQS”)信号和数据(“DQ”)信号之间的相位偏移进行校准时，对数据信号驱动器电路阻抗进行调整以在执行系统级存储器测试时削弱DQ信号通道上的阻抗匹配。在存储器测试期间，相位偏移会逐步通过范围，并针对每个测试确定错误计数。存储器测试可以仿真设备的任务模式操作。在存储器测试之后，确定与最低错误计数相对应的最佳相位偏移。在设备的后续任务模式操作中，DQS信号可以关于DQ信号延迟与最佳相位偏移相对应的值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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