一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510272545.2
IPC分类号：G01J5/00
申请日期：
2015-05-25
申请人：
北京空间机电研究所

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著录项信息

专利名称	一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法
申请号	CN201510272545.2	申请日期	2015-05-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-09	公开/公告号	CN105136308A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京空间机电研究所	申请人地址	北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京空间机电研究所	当前权利人	北京空间机电研究所
发明人	张守荣;王华;张大鹏;张旭;刘涛;潘卫军
代理机构	中国航天科技专利中心	代理人	臧春喜

摘要

一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法，首先设置不同的红外焦平面阵列的积分时间，用两点温度定标法计算探测单元采集到的平均图像数据输出；求得每个有效像元点在不同积分时间条件下所对应的增益定标系数和偏置定标系数；然后绘制每个有效像元点的增益定标系数和偏置定标系数分别随积分时间变化的折线图；使用最小二乘法拟合得到每段积分时间区间的增益拟合系数和偏置拟合系数；最后计算偏置校正系数和增益校正系数，对红外焦平面阵列获得的图像进行校正，本发明由于校正系数与积分时间是一一对应，分离出积分时间的变化对焦平面阵列均匀性的影响。不仅使红外图像的均匀性得到较大幅度提高，而且修改积分时间图像均匀性不受影响。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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