基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200910195206.3
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2009-09-07
申请人：
上海电力学院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法
申请号	CN200910195206.3	申请日期	2009-09-07
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2010-03-10	公开/公告号	CN101666705
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	上海电力学院	申请人地址	上海市杨浦区平凉路2103号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海电力学院,国网上海市电力公司	当前权利人	上海电力学院,国网上海市电力公司
发明人	张建平
代理机构	上海申汇专利代理有限公司	代理人	吴宝根

摘要

本发明涉及一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法，根据实验得到n个试验样品的平均亮度数据，应用威布尔函数来描述真空荧光显示器的亮度衰减，并采用最小二乘法对其进行参数估计，从而达到计算出真空荧光显示器在加速温度应力T条件下的平均寿命μ，代入在正常应力T0下的平均寿命公式中，预测出真空荧光显示器寿命，此方法对真空荧光显示器的寿命预测和初始亮度设计具有指导意义。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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