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调试电路

发明专利无效专利

申请号：
CN200410079702.X
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/3177
申请日期：
2004-09-17
申请人：
松下电器产业株式会社

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	调试电路
申请号	CN200410079702.X	申请日期	2004-09-17
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-03-23	公开/公告号	CN1598608
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;7查看分类表>
申请人	松下电器产业株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下电器产业株式会社	当前权利人	松下电器产业株式会社
发明人	上田泰志;岡崎诚
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	李德山

摘要

本发明提供一种调试电路，在变换块(140)中，把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号，用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁，并变换为串行数据输出到输出块(150)，因此，可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号，可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。

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