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一种V槽残厚测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202022660723.8
  • IPC分类号:G01B21/08
  • 申请日期:
    2020-11-17
  • 申请人:
    深圳市三昊仪器设备有限公司
著录项信息
专利名称一种V槽残厚测试装置
申请号CN202022660723.8申请日期2020-11-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B21/08IPC分类号G;0;1;B;2;1;/;0;8查看分类表>
申请人深圳市三昊仪器设备有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区沙井街道沙三社区沙三路33号二层上下围创业工业园8栋2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市三昊仪器设备有限公司当前权利人深圳市三昊仪器设备有限公司
发明人吴鸿林;吴玉林
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种V槽残厚测试装置,包括底座,所述底座下端四角均固定连接有支撑柱,所述底座上端后部固定连接有支撑杆,所述支撑杆上端固定连接有支撑板,所述支撑板上端中部固定连接有把手,所述支撑板前端固定连接有测量装置,所述测量装置内固定连接有两组滑杆,且两组滑杆外表面共同滑动连接有滑块,所述滑块内下部固定连接有上刀片,所述底座前端固定连接有下刀座,所述滑块右端上部固定连接有调节装置。本实用新型所述的一种V槽残厚测试装置,通过设置调节装置,通过转动转动杆,使其带动偏心轮转动,从而使滑板带动滑块移动,使上刀片稳固移动,提高了刀片移动的稳定性,使得产品稳定测量。

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