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一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210069920.X
  • IPC分类号:H03K3/011;H03K3/02
  • 申请日期:
    2012-03-16
  • 申请人:
    电子科技大学
著录项信息
专利名称一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法
申请号CN201210069920.X申请日期2012-03-16
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2012-09-12公开/公告号CN102664605A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03K3/011IPC分类号H;0;3;K;3;/;0;1;1;;;H;0;3;K;3;/;0;2查看分类表>
申请人电子科技大学申请人地址
四川省成都市建设北路二段4号电子科技大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人电子科技大学当前权利人电子科技大学
发明人徐振涛;宁宁;范洋;张军;冯纯益;钱可强;于奇;刘洋
代理机构成都科海专利事务有限责任公司代理人盛明洁
摘要
一种低温漂特性的张弛振荡器及其调试方法,涉及振荡器领域。该振荡器电路包括偏置模块,寄存器和振荡模块。振荡模块是由开关结构电路,比较器,电容充放电电路组成。该振荡器以开关结构电路为核心,配合电流调节方式的调试方法,实现张弛振荡器单片集成的同时,使振荡器振荡频率获得了优良的温度稳定性。本发明公开的开关结构电路是为了使张弛振荡器获得良好的温度稳定性,根据电路工作原理,开关结构电路中的元件无论给比较器提供何种温度特性旳阈值电压,均可使张弛振荡器拥有良好的温度稳定性。本发明的低温漂张弛振荡器及其调试方法适用于任何标准CMOS工艺。

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