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一种基于级联Sagnac干涉仪的折射率测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610151204.4
  • IPC分类号:G01N21/45
  • 申请日期:
    2016-03-16
  • 申请人:
    北京信息科技大学
著录项信息
专利名称一种基于级联Sagnac干涉仪的折射率测量方法
申请号CN201610151204.4申请日期2016-03-16
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-07-20公开/公告号CN105784641A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/45IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;4;5查看分类表>
申请人北京信息科技大学申请人地址
北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京信息科技大学当前权利人北京信息科技大学
发明人祝连庆;何巍;骆飞;刘锋;张钰民;闫光;董明利
代理机构北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人顾珊;庞立岩
摘要
本发明提供了一种基于级联Sagnac干涉仪的折射率测量方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建所述级联Sagnac干涉仪测量系统,所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪;b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控折射率的折射率溶液中,进行折射率标定;c)逐渐增加折射率的大小,光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱,记录梳状谱移动的长度,拟合梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线;d)将标定好的折射率测量系统置于待测折射率溶液中;e)利用所拟合的梳状谱波长偏移随折射率变化的关系曲线对待测折射率溶液进行测量。

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