改进型的双光束X射线测厚仪

实用新型专利有效专利

申请号：
CN86209739
IPC分类号：--
申请日期：
1986-12-06
申请人：
冶金工业部自动化研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	改进型的双光束X射线测厚仪
申请号	CN86209739	申请日期	1986-12-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	冶金工业部自动化研究所	申请人地址	北京市丰台区北大地丰台路84号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	冶金工业部自动化研究所	当前权利人	冶金工业部自动化研究所
发明人	余式正
代理机构	冶金专利事务所	代理人	常贵贞

摘要

一种改进型双光束X射线测厚仪，采用标准片代替以往的基准楔进行厚度设定，并能实现被测板材质补偿。该测厚仪中的前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路，实现偏差指示的线性化。同时在设定光束中设置适当的平衡片，使两束光束完全平衡。从而使之充分发挥了双光束测量方式稳定性高、噪音低的特点，用简单的电路和小的X射线强度，实现高精度的厚度测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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