一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201310123964.0
IPC分类号：H01J49/40;G01N27/64
申请日期：
2013-04-10
申请人：
中国科学院大连化学物理研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
申请号	CN201310123964.0	申请日期	2013-04-10
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-10-15	公开/公告号	CN104103489A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/40 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/26 质谱仪或质量分离管〔3〕 H01J49/34 动态分光仪〔3〕 H01J49/40 飞行时间型分光仪（H01J 49/36优先）〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;4;0;;;G;0;1;N;2;7;/;6;4查看分类表>
申请人	中国科学院大连化学物理研究所	申请人地址	辽宁省大连市中山路457号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院大连化学物理研究所	当前权利人	中国科学院大连化学物理研究所
发明人	唐紫超;史磊;吴小虎;王兴龙;任文峰;李刚;张世宇
代理机构	沈阳晨创科技专利代理有限责任公司	代理人	张晨

摘要

一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体，质谱分辨率可达到5000，具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供