一种用于多元素原子吸收测定的易于调试的狭缝装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320759350.7
IPC分类号：G01N21/01;G01J3/04
申请日期：
2013-11-26
申请人：
上海光谱仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于多元素原子吸收测定的易于调试的狭缝装置
申请号	CN201320759350.7	申请日期	2013-11-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/01 便于进行光学测试的装置或仪器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;1;;;G;0;1;J;3;/;0;4查看分类表>
申请人	上海光谱仪器有限公司	申请人地址	上海市青浦区白鹤镇工业园区4小区第4幢24号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海光谱仪器有限公司	当前权利人	上海光谱仪器有限公司
发明人	陈建钢;杨啸涛;刘志高;丁浩彦
代理机构	上海天翔知识产权代理有限公司	代理人	刘常宝

摘要

本实用新型公开了一种用于多元素原子吸收测定的易于调试的狭缝装置，所述狭缝装置包括狭缝片以及狭缝底座，所述狭缝片设置在狭缝底座上，且狭缝片上开设有若干狭缝，每个狭缝对应一个测量元素对应的波长，每个狭缝的宽度和探测器的光谱分辨率相对应。本狭缝装置，其能够同时测定多元素原子吸收，且结构简单，调试非常简单和可靠，从而有效的保证测定的精确度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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