近场通讯终端测试用位置控制装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200810005228.4
IPC分类号：G01R33/02;G06K7/00
申请日期：
2008-01-31
申请人：
中兴通讯股份有限公司

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著录项信息

专利名称	近场通讯终端测试用位置控制装置
申请号	CN200810005228.4	申请日期	2008-01-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-08-05	公开/公告号	CN101498769
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2;;;G;0;6;K;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中兴通讯股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中兴通讯股份有限公司	当前权利人	中兴通讯股份有限公司
发明人	郭寰
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	龙洪;霍育栋

摘要

本发明公开了一种近场通讯终端测试用位置控制装置，包括：底座、纵杆和夹持部，纵杆垂直设置在底座上，夹持部沿纵杆纵向可调节位置地设置在纵杆上，在纵杆上设置有用于确定夹持部与底座之间的距离的第一标尺。本发明的近场通讯终端测试用位置控制装置通过控制夹持部在纵杆的纵向上的滑动位置和滑竿在纵杆横向上的滑动位置，实现了控制NFC终端与测试设备之间的距离和位置，使得对NFC终端的测试的过程更加方便、快捷且操作简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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